Die Photoemissionselektronenmikroskopie (englisch photo emission electron microscopy, PEEM) ist eine mit der Photoelektronenspektroskopie (PES) und der Elektronenmikroskopie verwandte, analytische Methode zur Untersuchung von Oberflächenphänomenen. Sie ist charakterisiert durch die Aufnahme einer zweidimensionalen Intensitätsverteilung der Photoelektronen und ergibt somit ein vergrößertes Bild der Probenoberfläche. Es handelt sich somit, charakteristisch für Mikroskope, um eine abbildende Messtechnik.
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